EXPERT SYSTEMS - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

EXPERT SYSTEMS

ISSN:

0266-4720

eISSN:

1468-0394

Dyscypliny:

  • Automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Informatyka techniczna i telekomunikacja (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria bezpieczeństwa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Nauki o zarządzaniu i jakości (Dziedzina nauk społecznych)
  • Stosunki międzynarodowe (Dziedzina nauk społecznych)
  • Informatyka (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 25 A
2017 25 A
2016 20 A
2015 25 A
2014 20 A
2013 25 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 20 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2022 5.9
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2022 5.9
2021 4.7
2020 3.4
2019 2.9
2018 3.1
2017 3
2016 2.6
2015 2.3
2014 1.9
2013 1.9
2012 2
2011 1.9

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 2

  • Kategoria
  • Rok

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2012
  • Gaussian mixture decomposition in the analysis of MALDI-TOF spectra
    Publikacja

    - EXPERT SYSTEMS - Rok 2012

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • SDF classifier revisited
    Publikacja

    Artykuł dotyczy problemów związanych z konstruowaniem klasyfikatorów wykorzystujących tzw. dyskryminacyjną funkcję samopodobieństwa (ang. Similarity Discriminant Function - SDF), w których tradycyjna, wektorowa reprezentacja obrazu została zastąpiona przez dane o strukturze macierzowej. Zaprezentowano możliwości modyfikowania macierzowych struktur danych i zaproponowano nowe warianty kryterium SDF. Przedstawione algorytmy zostały...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

wyświetlono 314 razy