EXPERT SYSTEMS - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

EXPERT SYSTEMS

ISSN:

0266-4720

eISSN:

1468-0394

Dyscypliny:

  • Automatyka, elektronika i elektrotechnika (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Informatyka techniczna i telekomunikacja (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Nauki o zarządzaniu i jakości (Dziedzina nauk społecznych)
  • Informatyka (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2023 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2023 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych
2022 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych
2021 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych
2020 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych
2019 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych
2018 25 A
2017 25 A
2016 20 A
2015 25 A
2014 20 A
2013 25 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 20 A
2009 20 A
2008 20 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2021 4.7
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2021 4.7
2020 3.4
2019 2.9
2018 3.1
2017 3
2016 2.6
2015 2.3
2014 1.9
2013 1.9
2012 2
2011 1.9

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 2

  • Kategoria
  • Rok

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

  • SDF classifier revisited
    Publikacja

    Artykuł dotyczy problemów związanych z konstruowaniem klasyfikatorów wykorzystujących tzw. dyskryminacyjną funkcję samopodobieństwa (ang. Similarity Discriminant Function - SDF), w których tradycyjna, wektorowa reprezentacja obrazu została zastąpiona przez dane o strukturze macierzowej. Zaprezentowano możliwości modyfikowania macierzowych struktur danych i zaproponowano nowe warianty kryterium SDF. Przedstawione algorytmy zostały...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Gaussian mixture decomposition in the analysis of MALDI-TOF spectra
    Publikacja

    - EXPERT SYSTEMS - Rok 2012

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

wyświetlono 208 razy