JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS

ISSN:

0022-3093

eISSN:

1873-4812

Dyscypliny:

  • Inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
  • Nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • Nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne
2020 70 MNiSW 2019
Punkty Ministerialne
Rok Punkty Lista
2020 70 MNiSW 2019
2019 70 MNiSW 2019
2018 30 A
2017 30 A
2016 30 A
2015 30 A
2014 30 A
2013 30 A
2012 35 A
2011 35 A
2010 32 A
2009 32 A
2008 32 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore
2018 2.7
Punkty CiteScore
Rok Punkty
2018 2.7
2017 2.42
2016 2.02

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Polityka wydawnicza:

Pre-print
wersja autorska artykułu przed recenzją
Post-print
wersja autorska artykułu po recenzji

Tabela statusów SHERPA RoMEO

Tabela statusów SHERPA RoMEO
SHERPA RoMEO kolor Polityka archiwizacji
Zielony można archiwizować pre-printy i post-printy lub wersję wydawcy
Niebieski can archive post-prints
Żółty można archiwizować pre-printy
Biały nie można archiwizować żadnych materiałów
Szary brak danych

Filtry

wszystkich: 52

  • Kategoria
  • Rok

Katalog Czasopism

2019
2018
2017
2016
2015
2014
2012
  • XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films

    Praca poświęcona jest wykorzystaniu analizy widm XAFS zmierzonych na krawędzi K atomów Nb do badania struktury cienkich warstw NbN-(100-x)SiO2 (x = 100, 80, 60 mol%) otrzymanych techniką zol-żel poprzez wysokotemperaturowe wygrzewanie warstw Nb2O5-SiO2 w atmosferze NH3. Otrzymana struktura filmu jest złożona z granul NbN ulokowanych w matrycy SiO2. Analiza XAFS pokazuje, że we wszystkich próbkach w lokalnym otoczeniu niobu znajduje...

    Pełny tekst w serwisie zewnętrznym

2010
2009
2008
2007
2006
2003

wyświetlono 145 razy