JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS

ISSN:

0022-3093

eISSN:

1873-4812

Dyscypliny:

  • inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
  • nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 30 A
2017 30 A
2016 30 A
2015 30 A
2014 30 A
2013 30 A
2012 35 A
2011 35 A
2010 32 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2023 6.5
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2023 6.5
2022 6.7
2021 6.4
2020 5.6
2019 4.8
2018 4.3
2017 4
2016 3.5
2015 3.6
2014 3.7
2013 3.1
2012 2.6
2011 3

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 60

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2024
Rok 2023
Rok 2022
Rok 2019
Rok 2018
Rok 2017
Rok 2016
Rok 2015
Rok 2014
Rok 2012
  • XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films

    Praca poświęcona jest wykorzystaniu analizy widm XAFS zmierzonych na krawędzi K atomów Nb do badania struktury cienkich warstw NbN-(100-x)SiO2 (x = 100, 80, 60 mol%) otrzymanych techniką zol-żel poprzez wysokotemperaturowe wygrzewanie warstw Nb2O5-SiO2 w atmosferze NH3. Otrzymana struktura filmu jest złożona z granul NbN ulokowanych w matrycy SiO2. Analiza XAFS pokazuje, że we wszystkich próbkach w lokalnym otoczeniu niobu znajduje...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2010
Rok 2009
Rok 2008
Rok 2007
Rok 2006

wyświetlono 1597 razy