MEASUREMENT - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Measurement

SHERPA RoMEO status:

Zielony Pomoc
Pre-print
wersja autorska artykułu przed recenzją
Post-print
wersja autorska artykułu po recenzji

Tabela statusów SHERPA RoMEO

Tabela statusów SHERPA RoMEO
SHERPA RoMEO kolor Polityka archiwizacji
Zielony można archiwizować pre-printy i post-printy lub wersję wydawcy
Niebieski can archive post-prints
Żółty można archiwizować pre-printy
Biały nie można archiwizować żadnych materiałów
Szary brak danych

ISSN: 0263-2241

Współczynnik Impact Factor

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Punkty Ministerialne

Punkty Ministerialne
Lista Rok Punkty
A 2017 30
A 2016 30
A 2015 30
A 2014 30
A 2013 30
A 2011 25
A 2008 27

Filtry

wszystkich: 18

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

Katalog Czasopism

2019
2018
2017
2013
  • Effect of waviness and roughness components on transverse profiles of turned surfaces
    Publikacja

    This paper presents the authors method of simultaneous analysis of roughness and waviness irregularity components, with the aim of better defining the key qualities and characteristics.Periodical surface machining traces may be analyzed spectrally, with the irregularity's peaks and troughs being used to define the wave's amplitude.In this work the standard composition for filtering waviness and roughness components of a surface...

    Pełny tekst w serwisie zewnętrznym

2010
2009
  • A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
    Publikacja

    Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...

    Pełny tekst w serwisie zewnętrznym

  • Optimization of impedance measurements using ''chirp'' type perturbation signal
    Publikacja

    W pracy przedstawiono innowacyjny sposób pomiaru impedancji przy użyciu sygnału niestacjonarnego "chirp". W procesie akwizycji pobudzenia i odpowiedzi prądowej zastosowano zmienną częstotliwość próbkowania. Podejście takie pozwala zarówno na wielokrotne zmniejszenie ilości niezbędnych do otrzymania widma impedancyjnego rejestrowanych danych jak również upraszcza i przyspiesza proces obliczeniowy. Stwierdzono iż dokładność wyników...

2008
  • An analysis of a measurement probe for a high impedance spectroscopy analyzer
    Publikacja

    W artykule przedstawiono sondę będącą obwodem wejściowym analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Sonda umożliwia pomiar impedancji jednym zaciskiem uziemnionej w zakresie od 100ohm do 100Gohm. Sonda umożliwia wydzielenie dwóch sygnałów proporcjonalnych do prądu i napięcia na impedancji mierzonej w szerokim zakresie częstotliwości od 100uHz do 100MHz.Przeprowadzono analizę sondy w której uwzględniono najważniejsze czynniki...

2007
  • An analysis of a measurement probe for a high impedance spectroscopy analyzer
    Publikacja

    W artykule przedstawiono sondę będącą obwodem wejściowym analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Sonda umożliwia pomiar impedancji jednym zaciskiem uziemnionej w zakresie od 100ohm do 100Gohm. Sonda umożliwia wydzielenie dwóch sygnałów proporcjonalnych do prądu i napięcia na impedancji mierzonej w szerokim zakresie częstotliwosci od 100uHz do 100MHz.Przeprowadzono analizę sondy w której uwzględniono najważniejsze czynniki...

    Pełny tekst w serwisie zewnętrznym

2006
  • A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
    Publikacja

    Przedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...

    Pełny tekst w serwisie zewnętrznym

2002

wyświetlono 64 razy