MEASUREMENT - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

MEASUREMENT

ISSN:

0263-2241

eISSN:

1873-412X

Dyscypliny:

  • Automatyka, elektronika i elektrotechnika (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria lądowa i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
  • Nauki leśne (Dziedzina nauk rolniczych)
  • Rolnictwo i ogrodnictwo (Dziedzina nauk rolniczych)
  • Nauki o bezpieczeństwie (Dziedzina nauk społecznych)
  • Nauki o zarządzaniu i jakości (Dziedzina nauk społecznych)
  • Astronomia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • Nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • Nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2022 200 Lista ministerialna 2019
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2022 200 Lista ministerialna 2019
2021 200 Lista ministerialna 2019
2020 200 Lista ministerialna 2019
2019 200 Lista ministerialna 2019
2018 30 A
2017 30 A
2016 30 A
2015 30 A
2014 30 A
2013 30 A
2012 25 A
2011 25 A
2010 27 A
2009 27 A
2008 27 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2020 6.4
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2020 6.4
2019 5.5
2018 4.9
2017 4.5
2016 4
2015 3.6
2014 2.9
2013 2.4
2012 2.2
2011 1.8

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 41

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2022
Rok 2021
Rok 2020
Rok 2019
Rok 2018
Rok 2017
Rok 2013
  • Effect of waviness and roughness components on transverse profiles of turned surfaces
    Publikacja

    - MEASUREMENT - Rok 2013

    This paper presents the authors method of simultaneous analysis of roughness and waviness irregularity components, with the aim of better defining the key qualities and characteristics.Periodical surface machining traces may be analyzed spectrally, with the irregularity's peaks and troughs being used to define the wave's amplitude.In this work the standard composition for filtering waviness and roughness components of a surface...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2010
Rok 2009
Rok 2008
  • An analysis of a measurement probe for a high impedance spectroscopy analyzer
    Publikacja

    W artykule przedstawiono sondę będącą obwodem wejściowym analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Sonda umożliwia pomiar impedancji jednym zaciskiem uziemnionej w zakresie od 100ohm do 100Gohm. Sonda umożliwia wydzielenie dwóch sygnałów proporcjonalnych do prądu i napięcia na impedancji mierzonej w szerokim zakresie częstotliwości od 100uHz do 100MHz.Przeprowadzono analizę sondy w której uwzględniono najważniejsze czynniki...

Rok 2007
  • An analysis of a measurement probe for a high impedance spectroscopy analyzer
    Publikacja

    W artykule przedstawiono sondę będącą obwodem wejściowym analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Sonda umożliwia pomiar impedancji jednym zaciskiem uziemnionej w zakresie od 100ohm do 100Gohm. Sonda umożliwia wydzielenie dwóch sygnałów proporcjonalnych do prądu i napięcia na impedancji mierzonej w szerokim zakresie częstotliwosci od 100uHz do 100MHz.Przeprowadzono analizę sondy w której uwzględniono najważniejsze czynniki...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2006
  • A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
    Publikacja

    - MEASUREMENT - Rok 2006

    Przedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2002

wyświetlono 3144 razy