Metrology and Measurement Systems - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Metrology and Measurement Systems

ISSN:

0860-8229

eISSN:

2300-1941

Wydawca:

Polska Akademia Nauk

Dyscypliny:

  • automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
  • nauki o bezpieczeństwie (Dziedzina nauk społecznych)
  • astronomia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 100 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 100 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 20 A
2017 20 A
2016 20 A
2015 20 A
2014 15 A
2013 20 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 9 B

Model czasopisma:

Open Access

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2022 2
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2022 2
2021 2.4
2020 2.5
2019 2.8
2018 2.8
2017 2.9
2016 2.7
2015 2.4
2014 2.2
2013 1.8
2012 1.6
2011 1.1

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Polityka wydawnicza:

Licencja: CC BY-NC-ND 3.0
Licencja
Creative Commons: BY-NC-ND 3.0 otwiera się w nowej karcie
Informacja o polityce wydawniczej
http://www.metrology.pg.gda.pl/instruct.html otwiera się w nowej karcie
Informacja o warunkach samoarchiwizacji
Zawarta w licencji
Czy czasopismo pozwala na samoarchiwizację
Tak - z ograniczeniami
Submitted Version Pomoc
tak
Accepted Version Pomoc
tak
Published Version Pomoc
tak
Miejsca samoarchiwizacji
poza serwisami komercyjnymi
repozytorium publikacji naukowych
strona pracodawcy (zgodnie z afiliacją)
strona domowa autora
Informacje o polityce dot. danych badawczych
brak danych
Embargo w miesiącach
brak embargo
Informacje dodatkowe
Indeksowane w DOAJ
Przy udostępnianiu/rozpowszechnianiu należy podać źródło oryginału i DOI.

Filtry

wszystkich: 111

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2018
Rok 2019
Rok 2013
Rok 2016
Rok 2006
Rok 2010
Rok 2003
  • A metrological analysis of the input circuit of an impedance meter.
    Publikacja

    W pracy przeprowadzono analizę obwodu wejściowego miernika impedancji W analizie obwodu wejściowego, uwzględniono najważniejsze czynniki wpływające na sygnały na jego wejściu: parametry zmiennoprądowe zastosowanych wzmacniaczy, rezystancję zakresową przetwornika prąd-napięcie, pojemności montażowe. Przeprowadzono symulację sygnałów wydzielanych w obwodzie dla różnych wartości pojemności pasożytniczych, następnie dokonano badań...

Rok 2007
Rok 2004
  • Analog fault signature based on sigma-delta modulation and oscillation-test methodology.

    W artykule dokonano przeglądu prac z zakresu testowania układów elektronicznych metodą oscylacyjną. Wskazując na niedostatki aktualnie stosowanej techniki testowania oscylacyjnego zaproponowano nową sygnaturę uszkodzeń dla układów analogowych. Proponowany parametr diagnostyczny jest wydobywany z odpowiedzi czasowej oscylatora testującego, w układzie złożonym z detektora szczytowego, modulatora sigma-delta oraz licznika rewersyjnego....

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2017
Rok 2009
  • Analyzer for spectroscopy of low-impedance objects

    W artykule przedstawiono analizator umożliwiający pomiar impedancji w zakresie 1 ohma < |Zx| < 100 Mohma. Zastosowano w nim nowe rozwiązania dotyczące obwodu wejściowego i techniki detekcji fazoczułej sygnałów pomiarowych. Obwód wejściowy zaprojektowano w postaci 5-zaciskowej sondy pomiarowej, która umożliwia ograniczenie wpływu rezystancji, indukcyjności i pojemności pasożytniczych na błąd pomiaru impedancji w szerokim przedziale...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Built-in Test Scheme for detection, classification and evaluation of nonlinearities

    W artykule przedstawiono koncepcję testera wbudowanego (BIST) przeznaczonego do detekcji nieliniowości, klasyfikacji rodzaju nieliniowości i oceny zniekształceń nieliniowych sygnału testowanego, bez użycia drogiego systemu automatycznego testowania. Tester bazuje na modulatorze sigma-delta umieszczonym na pakiecie testowanym i sztucznej sieci neuronowej zaimplementowanej w komputerze osobistym. Koncepcję testera zweryfikowano poprzerz...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Excitation-independent constant conductance isfet driver
    Publikacja

    - Metrology and Measurement Systems - Rok 2009

    A new constant conductance driver for ISFETs sensors has been developed. The proposed circuit maintains the sensor operating point at constant drain-source conductance. The combination of a simple, self-balancing resistance bridge and the subtraction half (or similar fraction) of source-drain voltage from the gate-source voltage provides the independence of output signal from current and voltage drivers instability. The use of...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

Rok 2012
Rok 2014
Rok 2011
Rok 2002
Rok 2015
Rok 2021
Rok 2020

wyświetlono 1758 razy