MICROELECTRONICS RELIABILITY - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

MICROELECTRONICS RELIABILITY

ISSN:

0026-2714

Dyscypliny:

  • Automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • Nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 20 A
2017 20 A
2016 20 A
2015 20 A
2014 20 A
2013 20 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 27 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2022 2.8
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2022 2.8
2021 3.5
2020 3.6
2019 3.1
2018 2.6
2017 2.6
2016 2.6
2015 3.2
2014 3
2013 2.7
2012 2.4
2011 2.3

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 11

  • Kategoria
  • Rok

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2018
Rok 2014
  • Quality assessment of ZnO-based varistors by 1/f noise

    Noise has been used as a diagnostic tool of surge arrester varistor structures comprising of ZnO grains of various type and size. The physical and electrical properties of the measured samples have been described. In the experimental study, the applied measurement system and the results of noise measurements for the selected structures of varistors designed for the continuous working voltage 280 V, 440 V and 660 V have been presented....

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2012
  • Quality testing methods of foil-based capacitors
    Publikacja

    Kondensatory foliowe są powszechnie stosowanymi elementami pasywnymi w ukłądach zasilania. Dotychczasowe metody oceny ich jakości są długotrwałe oraz zużywają energię. W pracy przedstawiono propozycje szeregu nowych, bardziej efektywnych metod, które mogą być z sukcesem stosowane podczas ich produkcji.

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2011
Rok 2009
Rok 2008
  • Evaluation of conductive-to-resistive layers interaction in thick-film resistors
    Publikacja
    • K. Mleczko
    • Z. Zawiślak
    • A. W. Stadtler
    • A. Kolek
    • A. [. Dziedzic
    • J. A. Cichosz

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Rok 2008

    Spektroskopia szumowa w zakresie małych częstotliwości jest używana do badania oddziaływania warstwy rezystywnej i przewodzącej w wytwarzanych rezystorach grubowarstwowych. Wprowadzono dwa parametry szumowe do określania stopnia tego oddziaływania. Opisano wyniki przeprowadzonych badań oddziaływania warstw z dwutlenku rutenu, rutenku bizmutu z kontaktami ze złota, platyna-złoto, pallad-srebro, od różnych producentów.

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality

    Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation
    Publikacja

    Przedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2005
Rok 2002

wyświetlono 426 razy