Wyszukiwarka
ISSN:
Dyscypliny:
- automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
Punkty Ministerialne: Pomoc
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| Rok 2024 | 70 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| 2024 | 70 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| 2023 | 70 | Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023 |
| 2022 | 70 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2021 | 70 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2020 | 70 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2019 | 70 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2018 | 20 | A |
| 2017 | 20 | A |
| 2016 | 20 | A |
| 2015 | 20 | A |
| 2014 | 20 | A |
| 2013 | 20 | A |
| 2012 | 20 | A |
| 2011 | 20 | A |
| 2010 | 27 | A |
Model czasopisma:
Punkty CiteScore:
| Rok | Punkty |
|---|---|
| Rok 2023 | 3.3 |
| Rok | Punkty |
|---|---|
| 2023 | 3.3 |
| 2022 | 2.8 |
| 2021 | 3.5 |
| 2020 | 3.6 |
| 2019 | 3.1 |
| 2018 | 2.6 |
| 2017 | 2.6 |
| 2016 | 2.6 |
| 2015 | 3.2 |
| 2014 | 3 |
| 2013 | 2.7 |
| 2012 | 2.4 |
| 2011 | 2.3 |
Impact Factor:
Sherpa Romeo:
Prace opublikowane w tym czasopiśmie
Filtry
wszystkich: 11
Katalog Czasopism
Rok 2018
-
FFT analysis of temperature modulated semiconductor gas sensor response for the prediction of ammonia concentration under humidity interference
PublikacjaThe increasing environmental contamination forces the need to design reliable devices for detecting of the volatile compounds present in the air. For this purpose semiconductor gas sensors, which have been widely used for years, are often utilized. Although they have many advantages such as low price and quite long life time, they still lack of long term stability and selectivity. Namely, environmental conditions have significant...
Rok 2014
-
Quality assessment of ZnO-based varistors by 1/f noise
PublikacjaNoise has been used as a diagnostic tool of surge arrester varistor structures comprising of ZnO grains of various type and size. The physical and electrical properties of the measured samples have been described. In the experimental study, the applied measurement system and the results of noise measurements for the selected structures of varistors designed for the continuous working voltage 280 V, 440 V and 660 V have been presented....
Rok 2012
-
Quality testing methods of foil-based capacitors
PublikacjaKondensatory foliowe są powszechnie stosowanymi elementami pasywnymi w ukłądach zasilania. Dotychczasowe metody oceny ich jakości są długotrwałe oraz zużywają energię. W pracy przedstawiono propozycje szeregu nowych, bardziej efektywnych metod, które mogą być z sukcesem stosowane podczas ich produkcji.
Rok 2011
-
Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging
PublikacjaW pracy przedstawiono wyniki pomiarów kondensatorów foliowych poddanych przyśpieszonemu procesowi starzenia na ramie trwałości. Stwierdzono, że w niektórych typach kondensatorów foliowych istnieje związek między intensywnością sygnału emisji akustycznej mierzonego w kondensatorach po ich wytworzeniu oraz rezystancji izolacji mierzonej po procesie ich starzenia.
-
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
PublikacjaPrzedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej...
Rok 2009
-
Classification of high-voltage varistors into groups of differentiated quality
PublikacjaThe research was aimed on defining a factor of quality for high-voltage varistors using Non-Destructive Testing (NDT) techniques, which could be applied during the production testing. The newly proposed parameter Q determined on the basis of the lowest resonant frequency fr measured within the preselected frequency range was taken into account. The parameter Q was defined for ZnO structures after firing, without metallized contacts....
Rok 2008
-
Evaluation of conductive-to-resistive layers interaction in thick-film resistors
PublikacjaSpektroskopia szumowa w zakresie małych częstotliwości jest używana do badania oddziaływania warstwy rezystywnej i przewodzącej w wytwarzanych rezystorach grubowarstwowych. Wprowadzono dwa parametry szumowe do określania stopnia tego oddziaływania. Opisano wyniki przeprowadzonych badań oddziaływania warstw z dwutlenku rutenu, rutenku bizmutu z kontaktami ze złota, platyna-złoto, pallad-srebro, od różnych producentów.
-
Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality
PublikacjaZaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu...
-
Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation
PublikacjaPrzedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego...
Rok 2005
-
New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification
PublikacjaW pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz...
Rok 2002
-
Low frequency noise and reliability properties of 0.12um CMOS devices with Ta2O5 as gate dielectrics
PublikacjaW artykule przedstawiono wyniki badań jakości tranzystorów CMOS 0.12um z Ta2O5 użytym jako dielektryk bramki. Przedstawione są charakterystyki statyczne elementów oraz wyniki pomiarów szumów prowadzonych w celu określenia jakości warstwy dielektrycznej Ta2O5, a także wyniki badań przeciążeniowych elementów.
wyświetlono 635 razy