MICROELECTRONICS RELIABILITY - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

MICROELECTRONICS RELIABILITY

ISSN:

0026-2714

Dyscypliny:

  • automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 70 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 70 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 20 A
2017 20 A
2016 20 A
2015 20 A
2014 20 A
2013 20 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 27 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2023 3.3
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2023 3.3
2022 2.8
2021 3.5
2020 3.6
2019 3.1
2018 2.6
2017 2.6
2016 2.6
2015 3.2
2014 3
2013 2.7
2012 2.4
2011 2.3

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 11

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2018
Rok 2014
Rok 2012
  • Quality testing methods of foil-based capacitors
    Publikacja

    Kondensatory foliowe są powszechnie stosowanymi elementami pasywnymi w ukłądach zasilania. Dotychczasowe metody oceny ich jakości są długotrwałe oraz zużywają energię. W pracy przedstawiono propozycje szeregu nowych, bardziej efektywnych metod, które mogą być z sukcesem stosowane podczas ich produkcji.

    Pełny tekst do pobrania w portalu

Rok 2011
Rok 2009
Rok 2008
  • Evaluation of conductive-to-resistive layers interaction in thick-film resistors
    Publikacja
    • K. Mleczko
    • Z. Zawiślak
    • A. W. Stadtler
    • A. Kolek
    • A. [. Dziedzic
    • J. A. Cichosz

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Rok 2008

    Spektroskopia szumowa w zakresie małych częstotliwości jest używana do badania oddziaływania warstwy rezystywnej i przewodzącej w wytwarzanych rezystorach grubowarstwowych. Wprowadzono dwa parametry szumowe do określania stopnia tego oddziaływania. Opisano wyniki przeprowadzonych badań oddziaływania warstw z dwutlenku rutenu, rutenku bizmutu z kontaktami ze złota, platyna-złoto, pallad-srebro, od różnych producentów.

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality

    Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation
    Publikacja

    Przedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2005
Rok 2002

wyświetlono 674 razy