OPTICAL ENGINEERING - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

OPTICAL ENGINEERING

ISSN:

0091-3286

eISSN:

1560-2303

Dyscypliny:

  • automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 40 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 40 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 20 A
2017 20 A
2016 20 A
2015 20 A
2014 20 A
2013 20 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 20 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2023 2.7
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2023 2.7
2022 2.8
2021 2.6
2020 2.5
2019 2.4
2018 2
2017 2.2
2016 2.1
2015 2.2
2014 2.1
2013 2
2012 1.9
2011 1.5

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 5

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2018
  • Investigations of the optical activity of nonlinear crystals by means of dual-wavelength polarimeter
    Publikacja

    - OPTICAL ENGINEERING - Rok 2018

    A dual-wavelength method in high accuracy polarimetry has been successfully tested and applied to measure optical activity (OA) of nonlinear crystals. In proposed polarimetric scheme two neighboring semiconductor laser wavelengths (635 and 650 nm) are used, which increases number of parameters measured simultaneously and improves the data processing. By neglecting dispersion of eigen wave ellipticity in crystals, more efficient...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2017
Rok 2014

wyświetlono 451 razy