Photonics Letters of Poland - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Photonics letters of poland

ISSN: 2080-2242

Współczynnik Impact Factor

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Punkty Ministerialne

Punkty Ministerialne
Lista Rok Punkty
B 2017 10
B 2016 7
B 2015 7
B 2014 10
B 2013 10
B 2011 7

Filtry

wszystkich: 26

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

Katalog Czasopism

2018
2015
2014
2013
  • In-situ optical diagnostics of boron-doped diamond films growth

    Interferometry is a desirable method for in-situ measurement of thin, dielectric film growth, as it don't modify conditions of film deposition. Here we present interferometrical measurements of thickness of doped diamond films during Chemical Vapor Deposition (CVD) process. For this purpose we used a semiconductor laser with a 405nm wavelength. Additional ex-situ measurement using spectral interferometry and ellipsometry...

    Pełny tekst w serwisie zewnętrznym

2011
2009

wyświetlono 40 razy