Wyszukiwarka
ISSN:
eISSN:
Dyscypliny:
- automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
- rolnictwo i ogrodnictwo (Dziedzina nauk rolniczych)
- nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
Punkty Ministerialne: Pomoc
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| Rok 2024 | 40 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| 2024 | 40 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| 2023 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023 |
| 2022 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2021 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2020 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2019 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2018 | 20 | A |
| 2017 | 20 | A |
| 2016 | 15 | A |
| 2015 | 15 | A |
| 2014 | 20 | A |
| 2013 | 15 | A |
| 2012 | 20 | A |
| 2011 | 20 | A |
| 2010 | 20 | A |
Model czasopisma:
Punkty CiteScore:
| Rok | Punkty |
|---|---|
| Rok 2023 | 3.3 |
| Rok | Punkty |
|---|---|
| 2023 | 3.3 |
| 2022 | 3.2 |
| 2021 | 3 |
| 2020 | 3 |
| 2019 | 2.7 |
| 2018 | 2.4 |
| 2017 | 2.1 |
| 2016 | 2.4 |
| 2015 | 2.2 |
| 2014 | 2.2 |
| 2013 | 2.3 |
| 2012 | 2.1 |
| 2011 | 2 |
Impact Factor:
Sherpa Romeo:
Prace opublikowane w tym czasopiśmie
Filtry
wszystkich: 3
Katalog Czasopism
Rok 2020
Rok 2015
-
Application of multisine nanoscale impedance microscopy to heterogeneous alloy surface investigations
PublikacjaIn the recent years atomic force microscopy is recognized as valuable tool for investigation of surficial features of construction materials. It concerns, among other things, studies of changes caused by such phenomena as galvanic corrosion, passivation associated with the growth of oxide layers, or sensitization of austenitic steels with the formation of carbide phases. In addition, atomic forcemicroscopy allows easy coupling...
Rok 2008
-
Reactive deposition of TiNx layers in a DC-magnetron discharge
PublikacjaTiNx layers have been deposited in 'balanced mode' and 'unbalanced mode' of a reactive DC-magnetron plasma (carrier gas argon, reactive gas nitrogen) under different conditions. Discharge power and reactive gas flow have been varied. The layers have been examined by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray reflectometry (XR), and spectroscopic ellipsometry (SE). The results of the layer analyses were combined with plasma investigations...
wyświetlono 635 razy