SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS

ISSN:

0142-2421

eISSN:

1096-9918

Dyscypliny:

  • automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
  • rolnictwo i ogrodnictwo (Dziedzina nauk rolniczych)
  • nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 40 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 40 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 40 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 20 A
2017 20 A
2016 15 A
2015 15 A
2014 20 A
2013 15 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 20 A

Model czasopisma:

Hybrydowe

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2022 3.2
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2022 3.2
2021 3
2020 3
2019 2.7
2018 2.4
2017 2.1
2016 2.4
2015 2.2
2014 2.2
2013 2.3
2012 2.1
2011 2

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 3

  • Kategoria
  • Rok

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2020
Rok 2015
Rok 2008
  • Reactive deposition of TiNx layers in a DC-magnetron discharge
    Publikacja

    - SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS - Rok 2008

    TiNx layers have been deposited in 'balanced mode' and 'unbalanced mode' of a reactive DC-magnetron plasma (carrier gas argon, reactive gas nitrogen) under different conditions. Discharge power and reactive gas flow have been varied. The layers have been examined by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray reflectometry (XR), and spectroscopic ellipsometry (SE). The results of the layer analyses were combined with plasma investigations...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

wyświetlono 275 razy