AFM (Atomic Force Microscopy) analysis of surface topography loaded with nickel nanoparticles. - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

AFM (Atomic Force Microscopy) analysis of surface topography loaded with nickel nanoparticles.

Opis

This dataset presents AFM (Atomic Force Microscopy) images depicting the surface topography loaded with nickel powdered nanoparticles. The detailed equipment and measurement data was described in "AFM readme.txt" file

Plik z danymi badawczymi

AFM.zip
568.9 kB, S3 ETag 4b12af18c6ed40af7365432b8907b426-1, pobrań: 56
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik AFM.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
NanoScope Analysis 1.40 software

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2024
Powiązana lokacja:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie (53° 25′ 30″ N, 14° 32′ 7″ E)
Data zatwierdzenia:
2024-03-21
Data wytworzenia:
2023
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/5rzc-8404 otwiera się w nowej karcie
Finansowanie:
Weryfikacja:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

Cytuj jako

wyświetlono 173 razy