Interface diffusion between metallic nanoparticles and silicon substrate

Opis

Interface diffusion between metallic nanoparticles and silicon substrate was detected by EDX method. Metallic nanostructures were manufactured by thermal annealing of thin films. Gold and silver nanostructures were chosen for measurements. Samples were annealed for 15 and 60 minutes at 550 deg.

Plik z danymi badawczymi

EDAX.zip

316.5 kB, S3 ETag 672f7305492cfd0d07715e4a9d83000c-1, pobrań: 5

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:: origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-06-24

Data wytworzenia:

2019

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/e9vb-w015

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

Marcin Stanisław Łapiński dr inż.
Instytut Nanotechnologii i Inżynierii Materiałowej
numer orcid 0000-0002-3283-2886otwiera się w nowej karcie
Twórca

wyświetlono 38 razy

Wyszukiwarka