Wyszukiwarka
Opis
The DataSet contains the scanning electron microscopy (SEM) micrographs of V2O5 thin films deposited on a silicon substrate. The as-prepared thin films were annealing under an oxidizing atmosphere in the temperature range 250-600C. The results show that the morphology of the films dependent on the annealing temperature.
The surface morphologies of the samples were studied by an FEI Company Quanta FEG 250 scanning electron microscope (SEM) (Waltham, MA, USA), mounting the analyzed sample on a carbon conductive tape.
These results are part of a project defined in the Journal of Nanomaterials. In this paper, the information about samples and synthesis details are reported.
Plik z danymi badawczymi
Si.zip
118.2 MB,
S3 ETag
23135eb90ad7991f8b7076678693bf18-1,
pobrań: 10
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2015
- Data zatwierdzenia:
- 2021-05-25
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/7wm2-g020 otwiera się w nowej karcie
- Seria:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Powiązane zasoby
- publikacja The influence of thermal conditions on V2O5 nanostructures prepared by sol-gel method
- publikacja Struktury nanokrystaliczne w układzie V O: wytwarzanie i właściwości
- dane badawcze XRD patterns of V2O5 thin films deposited on silicon substrate
- dane badawcze Chemical composition of V2O5 nanorods
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 44 razy