SEM micrographs of morphology evolution of VO2 and V2O3 thin films obtained at 700°C

Opis

The DataSet contains the scanning electron microscopy (SEM) micrographs of VO2 and V2O3 thin films obtained by the sol-gel method. The information about sol synthesis is described in the Journal of Nanomaterials. The thin films with different thicknesses (3-9 AsP layers) were deposited on a silicon substrate and were annealing at 700°C under an argon atmosphere.

The surface morphologies of the samples were studied by an FEI Company Quanta FEG 250 scanning electron microscope (SEM) (Waltham, MA, USA), mounting the analyzed sample on a carbon conductive tape.

Plik z danymi badawczymi

Ar700C.zip

188.1 MB, S3 ETag db3c7165eb12486ec01ad43c38546517-1, pobrań: 70

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-07-13

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/accr-rz28

Seria:

Vanadium oxides

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

publikacja The influence of thermal conditions on V2O5 nanostructures prepared by sol-gel method

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 114 razy

Wyszukiwarka