Wyszukiwarka
Opis
The DataSet contains the scanning electron microscopy (SEM) micrographs of V2O5 thin film morphology dependent on substrate types. The as-prepared thin films were deposited on alumina, zirconium, zirconium oxide and metallic vanadium substrate, then was annealing under an oxidizing atmosphere at 600C for 10h. The results show that the morphology of the films dependent on the substrate type.
The surface morphologies of the samples were studied by an FEI Company Quanta FEG 250 scanning electron microscope (SEM) (Waltham, MA, USA), mounting the analyzed sample on a carbon conductive tape.
The information about as-prepared thin films synthesis is described in the Journal of Nanomaterials.
Plik z danymi badawczymi
diff subs.zip
171.1 MB,
S3 ETag
9b438e52f6d78f2d709f3e147acd0f6c-1,
pobrań: 54
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2015
- Data zatwierdzenia:
- 2021-05-24
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/e7sn-zn09 otwiera się w nowej karcie
- Seria:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Powiązane zasoby
- publikacja The influence of thermal conditions on V2O5 nanostructures prepared by sol-gel method
- publikacja Struktury nanokrystaliczne w układzie V O: wytwarzanie i właściwości
- dane badawcze XRD patterns of V2O5 thin film morphology dependent on substrate types
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 94 razy