Wyszukiwarka
Opis
Raw Raman spectra and XRD diffractograms (background subtracted) of 13 among which carbon-derived secondary waste and reference materials.
Raman spectra were collected measured using a commercial Raman microscope (LabRam Aramis, Horiba) with excitation by a 632.8 nm HeNe laser with up to 20 mW, integration time of 5 s (20 averages); 300 lines per mm diffraction grating.
XRD diffractograms were using BRUKER D2PHASER equipment with Cu Kα radiation (lambda = 1.54 Å), operating at 30 kV and 10 mA. The XRD patterns were collected using a scan step of 0.02° and a count time of 0.4 s per step.
Sample ID is reported in the attached file.
Plik z danymi badawczymi
CSWM.zip
653.0 kB,
S3 ETag
a4c045c35187dcd3b2f0db0fe5c516b3-1,
pobrań: 54
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2024
- Data zatwierdzenia:
- 2024-02-23
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/ynj6-6r28 otwiera się w nowej karcie
- Finansowanie:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 109 razy