The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 450°C - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 450°C

Opis

The DataSet contains the atomic force microscope images of the surface of vanadium oxide thin films. The thin films were obtained by the sol-gel method.  The information about sol synthesis is described in the Journal of Nanomaterials. The sol was deposited on quartz glass and silicon substrate and vanadium thin films were obtained by annealing as-prepared films at 450°C  under synthetic air. 

A Nanosurf Easyscan 2 AFM atomic force microscopy was used to examine the morphology of thin films.

Plik z danymi badawczymi

450C.zip
2.8 MB, S3 ETag be25c71b80959e17b34841d9fc24505a-1, pobrań: 4
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik 450C.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-06-22
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • Inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/p2vq-wt10 otwiera się w nowej karcie
Seria:
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

Cytuj jako

wyświetlono 37 razy