The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 450°C

Opis

The DataSet contains the atomic force microscope images of the surface of vanadium oxide thin films. The thin films were obtained by the sol-gel method. The information about sol synthesis is described in the Journal of Nanomaterials. The sol was deposited on quartz glass and silicon substrate and vanadium thin films were obtained by annealing as-prepared films at 450°C under synthetic air.

A Nanosurf Easyscan 2 AFM atomic force microscopy was used to examine the morphology of thin films.

Plik z danymi badawczymi

450C.zip

2.8 MB, S3 ETag be25c71b80959e17b34841d9fc24505a-1, pobrań: 46

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-06-22

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/p2vq-wt10

Seria:

Vanadium oxides

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

publikacja The influence of thermal conditions on V2O5 nanostructures prepared by sol-gel method

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 92 razy

Wyszukiwarka