The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 800°C

Opis

The DataSet contains the atomic force microscope images of the surface of vanadium oxide thin films. The thin films were obtained by the sol-gel method. The information about sol synthesis is described in the Journal of Nanomaterials. The sol was deposited on a silicon substrate and vanadium thin films were obtained by annealing as-prepared films at 800°C under synthetic air.

A Nanosurf Easyscan 2 AFM atomic force microscopy was used to examine the morphology of thin films.

Plik z danymi badawczymi

800C.zip

656.5 kB, S3 ETag c608f3981b049ef7f5ed851f111a314c-1, pobrań: 5

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:: Gwyddion

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-06-22

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/pn5h-4476

Seria:

Vanadium oxides

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

publikacja The influence of thermal conditions on V2O5 nanostructures prepared by sol-gel method

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 43 razy

Wyszukiwarka