XRD investigations of the lithium titanate thin films - Open Research Data - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

XRD investigations of the lithium titanate thin films

Opis

Nanocrystalline thin films with 800 nm thickness were prepared by sol–gel method. To examine the influence of the annealing temperature on as-prepared films crystallization, the coatings were heated at temperature from 500 °C up to 600 °C  for 20h. Structure of manufactured thin films was investigated using X-ray diffraction (XRD). The most visible lithium titanate phase was obtained after 20 h annealing at 550 °C.

Plik z danymi badawczymi

LTO.zip
124.1 kB, S3 ETag c36663f5117698737be8ddb191bec04e-1, pobrań: 38
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik LTO.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-06-23
Data wytworzenia:
2011
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/fhca-gb57 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 101 razy