A compact smart sensor based on a neural classifier for objects modeled by Beaunier's model - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

A compact smart sensor based on a neural classifier for objects modeled by Beaunier's model

Abstrakt

A new solution of a smart microcontroller sensor based on a simple direct sensor-microcontroller interface for technical objects modeled by two-terminal networks and by the Beaunier’s model of anticorrosion coating is proposed. The tested object is stimulated by a square pulse and its time voltage response is sampled four times by the internal ADC of microcontroller. A neural classifier based on measurement data classifies the tested object to a given degradation stage.

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Przegląd Elektrotechniczny strony 60 - 63,
ISSN: 0033-2097
Język:
angielski
Rok wydania:
2017
Opis bibliograficzny:
Czaja Z., Kowalewski M.: A compact smart sensor based on a neural classifier for objects modeled by Beaunier's model// Przegląd Elektrotechniczny. -., nr. 10 (2017), s.60-63
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2017.10.14
Bibliografia: test
  1. Niedostatkiewicz M., Lentka G., Test frequencies selection criteria for parameter identification of anticorrosion coating using bilinear transformation, 16th IMEKO TC4 Symposium, Florence, Italy, (2008)
  2. Niedostatkiewicz M., Lentka G., Frequencies selection for accelerated CNLS parameter identification of anticorrosion coatings,
  3. Mansfeld F., Kendig M.W., Tsai C.H., Evaluation of Corrosion Behavior of Coated Metals with AC Impedance Measurements, Corrosion 38 (1982), 478-485 otwiera się w nowej karcie
  4. Atmel Corporation, Atmel AVR XMEGA AU Manual, (2012), PDF file available from: www.atmel.com
  5. International Rectifier, IRF7105 HEXFET Power MOSFET, El Segundo, CA, USA, (2003), PDF file available: http://www.irf.com otwiera się w nowej karcie
  6. Czaja Z., A microcontroller system for measurement of three independent components in impedance sensors using a single square pulse, Sensors and Actuators A, 173, (2013), 284-292 otwiera się w nowej karcie
  7. Kowalewski M., Zielonko R., A New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits, Proc. of the 2nd Int. Conf. on Information Technology ICIT 2010, Gdańsk, (2010), 143-146 otwiera się w nowej karcie
  8. Czaja Z., Kowalewski M., An Application of TCRBF Neural Network in Multi-node Fault Diagnosis Method, IMEKO XIX World Congress, Lisbon, Portugal, (2009), 503 -508
  9. Czaja Z., Kowalewski M., A New Method for Diagnosis of Analog Parts in Electronic Embedded Systems with Two Center Radial Basis Function Neural Networks, 16th IMEKO TC4 Symposium, Florence, Italy, (2008), 743-748 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 82 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi