Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji uszkodzeń realizowanego przez mikrokontroler. Słownik uszkodzeń w postaci mapy krzywych identyfikacyjnych w przestrzeni K-wymiarowej jest konwertowany i umieszczany w pamięci programu mikrokontrolera. Metody te mają następujące zalety: pomiary części analogowych są wykonywane wyłącznie przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolerów, procedura diagnostyczna nie wymaga dużej mocy obliczeniowej, kod procedury i słownika uszkodzeń zajmują niewiele miejsca w pamięci programu mikrokontrolera.
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.measurement.2006.07.015
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
MEASUREMENT
ISSN: 0263-2241 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2006
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.// MEASUREMENT. -., (2006),
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 127 razy