A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers

Abstrakt

A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.

Cytowania

  • 2

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 2

    Scopus

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Przegląd Elektrotechniczny strony 19 - 22,
ISSN: 0033-2097
Język:
angielski
Rok wydania:
2016
Opis bibliograficzny:
Czaja Z.: A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers// Przegląd Elektrotechniczny. -., nr. 11 (2016), s.19-22
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2016.11.05
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 97 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi