Wyszukiwarka
A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
Abstrakt
A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.
Cytowania
-
2
CrossRef
-
0
Web of Science
-
2
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 29 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2016.11.05
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 19 - 22,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2016
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers// Przegląd Elektrotechniczny. -., nr. 11 (2016), s.19-22
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2016.11.05
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 136 razy