Wyszukiwarka
A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier
Abstrakt
A new approach of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps of mixed-signal systems controlled by microcontrollers is presented. It consists of a measurement procedure and a fault diagnosis procedure. We measure voltage samples of a time response of a tested circuit on a stimulation of a unit step function given at the common-mode reference voltage input of the op-amp. The fault detection and fault localization is carried out by the TCBF neural network classifier.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- XXI IMEKO WORLD CONGRESS – FULL PAPERS strony 538 - 543
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2015
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z., Kowalewski M.: A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier// XXI IMEKO WORLD CONGRESS – FULL PAPERS/ ed. Assoc. Prof. Jan Holub Praga: Czech Technical University in Prague Faculty of Electrical Engineering, Department of Measurement, 2015, s.538-543
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 123 razy