A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier

Abstrakt

A new approach of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps of mixed-signal systems controlled by microcontrollers is presented. It consists of a measurement procedure and a fault diagnosis procedure. We measure voltage samples of a time response of a tested circuit on a stimulation of a unit step function given at the common-mode reference voltage input of the op-amp. The fault detection and fault localization is carried out by the TCBF neural network classifier.

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
XXI IMEKO WORLD CONGRESS – FULL PAPERS strony 538 - 543
Język:
angielski
Rok wydania:
2015
Opis bibliograficzny:
Czaja Z., Kowalewski M.: A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier// XXI IMEKO WORLD CONGRESS – FULL PAPERS/ ed. Assoc. Prof. Jan Holub Praga: Czech Technical University in Prague Faculty of Electrical Engineering, Department of Measurement, 2015, s.538-543
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 16 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi