Wyszukiwarka
A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus
Abstrakt
A new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for fault detection and single soft fault localization in an analog tested circuit (A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus).
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 27 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2016.11.06
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 23 - 26,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2016
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z., Bartosiński B.: A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus// Przegląd Elektrotechniczny. -., nr. 11 (2016), s.23-26
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2016.11.06
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 155 razy