A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus

Abstrakt

A new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for fault detection and single soft fault localization in an analog tested circuit (A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus).

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Przegląd Elektrotechniczny strony 23 - 26,
ISSN: 0033-2097
Język:
angielski
Rok wydania:
2016
Opis bibliograficzny:
Czaja Z., Bartosiński B.: A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus// Przegląd Elektrotechniczny. -., nr. 11 (2016), s.23-26
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2016.11.06
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 111 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi