An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop.

Abstrakt

Przedstawiono oscylacyjny tester wbudowany (OBIT) do testowania części analogowej elektronicznego układu mieszanego sygnałowo zmontowanego na pakiecie. W celu zwiększenia współczynnika pokrycia uszkodzeń, w testerze zastosowano pomiary w dziedzinie czasu i częstotliwości. Omówiono wybrane aspekty implementacji testera, w szczególności problem transformacji układu testowanego w oscylator. Przeprowadzono analizę stanu ustalonego struktury oscylatora testującego z pętlą automatycznej regulacji wzmocnienia (ARW).

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Język:
angielski
Rok wydania:
2006
Opis bibliograficzny:
Toczek W.: An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop. // Measurement. Article in Press, Corrected Proof [online].. -., (2006),
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 10 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi