Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono oscylacyjny tester wbudowany (OBIT) do testowania części analogowej elektronicznego układu mieszanego sygnałowo zmontowanego na pakiecie. W celu zwiększenia współczynnika pokrycia uszkodzeń, w testerze zastosowano pomiary w dziedzinie czasu i częstotliwości. Omówiono wybrane aspekty implementacji testera, w szczególności problem transformacji układu testowanego w oscylator. Przeprowadzono analizę stanu ustalonego struktury oscylatora testującego z pętlą automatycznej regulacji wzmocnienia (ARW).
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2006
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W.: An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop. // Measurement. Article in Press, Corrected Proof [online].. -., (2006),
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 85 razy