Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems

Abstrakt

This paper concerns the implementation of shape-designed complementary signals (CSs), matched to the frequency characteristic of the circuit under test, in built-in self testers (BISTs), dedicated to mixed-signal embedded electronic systems for testing their analog sections. The essence of the proposed method and solution of CS BIST is low-cost realization on the base of hardware and software resources of microcontrollers used in contemporary embedded systems. The paper presents a description and a theoretical basis of known bipolar CSs and unipolar CSs proposed by the authors, results of investigations of metrological properties of CSs, solution of CS BIST and its experimental verification on the examples of testing 2nd and 4th order Butterworth filters.

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 5

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT nr 59, strony 345 - 352,
ISSN: 0018-9456
Język:
angielski
Rok wydania:
2010
Opis bibliograficzny:
Załęski D., Zielonko R., Bartosiński B.: Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems// IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. -Vol. 59, nr. Nr 2, February. (2010), s.345-352
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1109/tim.2009.2023819
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 18 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi