Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy

Abstrakt

Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego ze skanowaniem powierzchni przy użyciu AFM.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Opublikowano w:
SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS nr 9, strony 1 - 5,
ISSN: 1468-6996
Język:
angielski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Darowicki K., Zieliński A., Kurzydłowski J.: Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy// SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS. -Vol. 9., (2008), s.1-5
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 37 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi