Wyszukiwarka
Abstrakt
Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego ze skanowaniem powierzchni przy użyciu AFM.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS
nr 9,
ISSN: 1468-6996 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Darowicki K., Zieliński A., Kurzydłowski J. K.: Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy// SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS. -Vol. 9., iss. 4 (2008), s.045006-
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 164 razy