Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy

Abstrakt

Atomic force microscopy (AFM) is a universal imaging technique, while impedance spectroscopy is a fundamental method of determining the electrical properties of materials. It is useful to combine those techniques to obtain the spatial distribution of an impedance vector. This paper proposes a new combining approach utilizing multifrequency scanning and simultaneous AFM scanning of an investigated surface.

Autorzy (3)

Cytuj jako

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS nr 9, strony 1 - 10,
ISSN: 1468-6996
Język:
angielski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Darowicki K., Zieliński A., Kurzydłowski J.: Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy// SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS. -Vol. 9, nr. 4 (2008), s.1-10
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 21 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi