Wyszukiwarka
Abstrakt
Atomic force microscopy (AFM) is a universal imaging technique, while impedance spectroscopy is a fundamental method of determining the electrical properties of materials. It is useful to combine those techniques to obtain the spatial distribution of an impedance vector. This paper proposes a new combining approach utilizing multifrequency scanning and simultaneous AFM scanning of an investigated surface.
Autorzy (3)
-
Jan Krzysztof Kurzydłowski
- Politechnika Warszawska Wydział Inżynierii Materiałowej
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 0 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS
nr 9,
strony 1 - 10,
ISSN: 1468-6996 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Darowicki K., Zieliński A., Kurzydłowski J.: Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy// SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS. -Vol. 9, nr. 4 (2008), s.1-10
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 21 razy