Atomic force microscopy based approach to local impedance measurements of grain interiors and grain boundaries of sensitized AISI 304 stainless steel - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Atomic force microscopy based approach to local impedance measurements of grain interiors and grain boundaries of sensitized AISI 304 stainless steel

Abstrakt

Cytowania

  • 2 3

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 2 6

    Scopus

Autorzy (5)

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
ELECTROCHIMICA ACTA nr 56, wydanie 5, strony 2372 - 2377,
ISSN: 0013-4686
ISSN:
0013-4686
Rok wydania:
2011
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.electacta.2010.11.079
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 124 razy

Meta Tagi