Atomic force microscopy based approach to local impedance measurements of grain interiors and grain boundaries of sensitized AISI 304 stainless steel - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Atomic force microscopy based approach to local impedance measurements of grain interiors and grain boundaries of sensitized AISI 304 stainless steel

Abstrakt

Cytowania

  • 2 0

    CrossRef

  • 2 2

    Web of Science

  • 2 1

    Scopus

Autorzy

  • Zdjęcie użytkownika  A. Arutunow

    A. Arutunow

  • Zdjęcie użytkownika  K. Darowicki

    K. Darowicki

  • Zdjęcie użytkownika  A. Zieliński

    A. Zieliński

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
Electrochimica Acta nr 56, wydanie 5, strony 2372 - 2377,
ISSN: 00134686
ISSN:
00134686
Rok wydania:
2011
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.electacta.2010.11.079
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 4 razy

Meta Tagi