Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania nad możliwościami wykorzystania niskokoherentnych interferometrycznych technik pomiarowych do kontroli i optymalizacji procesów wytwarzania ceramicznych warstw PLZT.
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
nr R. 49,
strony 83 - 86,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Strąkowski M., Kosmowski B., Pluciński J.: Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 49., nr. nr 11 (2008), s.83-86
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 79 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
LTCC compatible PLZT thick-films for piezoelectric devices.
- J. Juuti,
- A. Łoziński,
- S. Leppavuori
2004