Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej

Abstrakt

W artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania nad możliwościami wykorzystania niskokoherentnych interferometrycznych technik pomiarowych do kontroli i optymalizacji procesów wytwarzania ceramicznych warstw PLZT.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania nr R. 49, strony 83 - 86,
ISSN: 0033-2089
Język:
polski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Strąkowski M., Kosmowski B., Pluciński J.: Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 49., nr. nr 11 (2008), s.83-86
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 33 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi