Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej

Abstrakt

W artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania nad możliwościami wykorzystania niskokoherentnych interferometrycznych technik pomiarowych do kontroli i optymalizacji procesów wytwarzania ceramicznych warstw PLZT.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
KKE : VII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008. Tom 1 strony 135 - 140
Język:
polski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Strąkowski M., Kosmowski B., Pluciński J.: Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej// KKE : VII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008. Tom 1/ ed. red. W. Janke, M. Bączek, S. Łuczak Koszalin: Wydaw. Politech. Koszal., 2008, s.135-140
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 27 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi