Wyszukiwarka
Abstrakt
Praca zawiera opis wybranych metod pomiarów elektrycznych cienkich warstw tlenkowych wytwarzanych metodą rozpylania magnetronowego. Omówiono metody pomiaru i stanowiska pomiarowe używane do mierzenia parametrów elektrycznych warstw tlenkowych. Zaprezentowano przykładowe wyniki pomiarów cienkich warstw opartych na tlenku tytanu.
Autorzy (6)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- I Sympozjum: Fotowoltaika i transparentna elektronika - perspektywy rozwoju, referaty plenarne, Kozy 12.01.2010 strony 0 - 38
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Łapiński M., Domaradzki J., Kaczmarek D., Prociów E., Sieradzka K., Mazur M.: Badanie właściwości elektrycznych powłok optycznych wytwarzanych metodą rozpylania magnetronowego// I Sympozjum: Fotowoltaika i transparentna elektronika - perspektywy rozwoju, referaty plenarne, Kozy 12.01.2010/ ed. ed. Jarosław Domaradzki Wrocław: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2010, s.0-38
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 154 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 autorów
2009
CdS thin films obtained by thermal treatment of cadmium(II) complexprecursor deposited by MAPLE technique
- A. Rotaru,
- A. Mietlarek-Kropidłowska,
- C. Constantinescu
- + 8 autorów
2009