Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface

Abstrakt

Przedstawiono uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Przedstawiono ograniczenia w pomiarze igłą, która odwzorowuje nierówności poprzeczne. Podano zależności parametrów pomiaru cyfrowego nierówności warunkujące zakresy ich rozpatrywania. Dla wartości przedziału próbkowania, dla którego nie jest spełnione twierdzenie o próbkowaniu przedstawiono warunek obcięcia górnopasmowego sygnału nierówności. W podsumowaniu podano wynikowy zakres częstotliwościowy nierówności powierzchni z dolno i górnoczęstotliwościowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazanie ich doboru dla otrzymania właściwego zakresu znaczących nierówności powierzchni.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Metrology and Measurement Systems nr 9, strony 159 - 169,
ISSN: 0860-8229
Język:
angielski
Rok wydania:
2002
Opis bibliograficzny:
Boryczko A.: Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface// Metrology and Measurement Systems. -Vol. 9., nr. 2 (2002), s.159-169
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 13 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi