Wyszukiwarka
Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface
Abstrakt
Przedstawiono uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Przedstawiono ograniczenia w pomiarze igłą, która odwzorowuje nierówności poprzeczne. Podano zależności parametrów pomiaru cyfrowego nierówności warunkujące zakresy ich rozpatrywania. Dla wartości przedziału próbkowania, dla którego nie jest spełnione twierdzenie o próbkowaniu przedstawiono warunek obcięcia górnopasmowego sygnału nierówności. W podsumowaniu podano wynikowy zakres częstotliwościowy nierówności powierzchni z dolno i górnoczęstotliwościowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazanie ich doboru dla otrzymania właściwego zakresu znaczących nierówności powierzchni.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Metrology and Measurement Systems
nr 9,
strony 159 - 169,
ISSN: 0860-8229 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Boryczko A.: Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface// Metrology and Measurement Systems. -Vol. 9., nr. 2 (2002), s.159-169
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 78 razy