DETERMINATION OF SP3 FRACTION IN ta-C COATING USING XPS AND RAMAN SPECTROSCOPY - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

DETERMINATION OF SP3 FRACTION IN ta-C COATING USING XPS AND RAMAN SPECTROSCOPY

Abstrakt

The paper presents results of studies on the structure of tetrahedral amorphous carbon films (ta-C) with a thickness in the range from 20 to 280 nm, deposited using pulsed vacuum arc technique with an electromagnetic Venetian blind plasma filter. The results of the phase structure analysis, obtained using visible Raman spectroscopy and UV Raman spectroscopy methods, showed a strong dependence of the results on the presence, on the surface of synthesized thin carbon films, even of a minimum number of microparticles. The presence of microparticles in the deposited coatings strongly affects the accuracy of the measured data, used next for calculation the ID/IG, IT/IG ratios and determination of the G-peak dispersion, for all coating thicknesses, which pointed to significant diversification in sp3-bonds content in deposited films.

Autorzy (7)

  • Zdjęcie użytkownika  V. Zavaleyev

    V. Zavaleyev

    • Koszalin University of Technology Faculty of Technology and Education
  • Zdjęcie użytkownika  J. Walkowicz

    J. Walkowicz

    • Koszalin University of Technology Faculty of Technology and Education
  • Zdjęcie użytkownika  Mirosław Sawczak

    Mirosław Sawczak

    • Instytut Maszyn Przepływowych PAN Ośrodek Techniki Plazmowej i Laserowej
  • Zdjęcie użytkownika  D. Moszyński

    D. Moszyński

    • West Pomeranian University of Technology Institute of Chemical and Environment Engineering
  • Zdjęcie użytkownika  R. Chodun

    R. Chodun

    • Warsaw University of Technology Faculty of Materials Science
  • Zdjęcie użytkownika  K. Zdunek

    K. Zdunek

    • Warsaw University of Technology Faculty of Materials Science

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
Problems of Atomic Science and Technology strony 84 - 92,
ISSN: 1562-6016
Język:
angielski
Rok wydania:
2016
Opis bibliograficzny:
Zavaleyev V., Walkowicz J., Sawczak M., Klein M., Moszyński D., Chodun R., Zdunek K.: DETERMINATION OF SP3 FRACTION IN ta-C COATING USING XPS AND RAMAN SPECTROSCOPY// Problems of Atomic Science and Technology. -, nr. 4(104) (2016), s.84-92
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 25 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi