Abstrakt
The paper presents results of studies on the structure of tetrahedral amorphous carbon films (ta-C) with a thickness in the range from 20 to 280 nm, deposited using pulsed vacuum arc technique with an electromagnetic Venetian blind plasma filter. The results of the phase structure analysis, obtained using visible Raman spectroscopy and UV Raman spectroscopy methods, showed a strong dependence of the results on the presence, on the surface of synthesized thin carbon films, even of a minimum number of microparticles. The presence of microparticles in the deposited coatings strongly affects the accuracy of the measured data, used next for calculation the ID/IG, IT/IG ratios and determination of the G-peak dispersion, for all coating thicknesses, which pointed to significant diversification in sp3-bonds content in deposited films.
Autorzy (7)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Problems of Atomic Science and Technology
strony 84 - 92,
ISSN: 1562-6016 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2016
- Opis bibliograficzny:
- Zavaleyev V., Walkowicz J., Sawczak M., Klein M., Moszyński D., Chodun R., Zdunek K.: DETERMINATION OF SP3 FRACTION IN ta-C COATING USING XPS AND RAMAN SPECTROSCOPY// Problems of Atomic Science and Technology. -, nr. 4(104) (2016), s.84-92
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 162 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Spectroscopic Study of Plasma Polymerized a-C:H Films Deposited by a Dielectric Barrier Discharge
- T. Chandrashekaraiah,
- R. Bogdanowicz,
- E. Rühl
- + 4 autorów
Fabrication and characterization of composite TiO2 nanotubes/ boron-doped diamond electrodes towards enhanced supercapacitors
- M. Sobaszek,
- K. SiuzdaK,
- M. Sawczak
- + 2 autorów