Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems

Abstrakt

Przedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej przez amplitudę i fazę jest kształt trajektorii sygnatur uszkodzeń. we współrzednych biegunowych trajektorie mają kształt fragmentów linii prostej lub okręgu o prostym opisie analitycznym. fakt ten implikuje bardzo zwartą formę słownika. bist może być realizowany na bazie własnych zasobów testowanego systemu.

Cytowania

  • 5

    CrossRef

  • 8

    Web of Science

  • 1 2

    Scopus

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
MICROELECTRONICS RELIABILITY strony 1413 - 1421,
ISSN: 0026-2714
Język:
angielski
Rok wydania:
2011
Opis bibliograficzny:
Toczek W., Czaja Z.: Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -, (2011), s.1413-1421
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2011.02.022
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 19 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi