Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w prze-strzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedyn-czych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 15 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Measurement Automation Monitoring
strony 745 - 748,
ISSN: 2450-2855 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2014
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z., Bartosiński B.: Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1// Pomiary Automatyka Kontrola. -., nr. 9 (2014), s.745-748
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 137 razy