Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

Abstrakt

Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę układów scalonych SCANSTA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów i uzyskane dokładności. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych magistral oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań w zakresie testowania oraz programowania systemów wbudowanych opartych na mikrokontrolerach.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne nr T. 16, strony 489 - 494,
ISSN: 1732-1166
Język:
polski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Bartosiński B.: Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących// Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne. -Vol. T. 16., (2008), s.489-494
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 14 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi