Evaluation of selected diagnostic variables for the purpose of assessing the ageing effects in high-power IGBTs

Wojciech Śleszyński; Janusz Nieznański; Artur Cichowski; Jarosław Łuszcz; Andrzej Wojewódka

doi:10.1109/isie.2010.5637327

Evaluation of selected diagnostic variables for the purpose of assessing the ageing effects in high-power IGBTs

Abstrakt

Przedstawiono metodę wyznaczania dwóch wskaźników diagnostycznych, które mogą być używane do oceny zużycia modułów IGBT dużej mocy. Proponowane podejście jest próbą zaadaptowania znanej z literatury metody laboratoryjnej do pracy bezpośrednio w układzie napędowym pojazdu trakcyjnego. Rozważane wskaźniki diagnostyczne to rezystancja cieplna między półprzewodnikiem a podstawą modułu oraz napięcie nasycenia kolektor-emiter IGBT. Wskaźniki te mogą być użyte w celu określenia stopnia rozwarstwiania struktury modułu na skutek termomechanicznego zmęczenia stopu lutowniczego oraz uszkodzeń połączeń drutowych wewnątrz modułu. Proponowana metoda została częściowo zweryfikowana eksperymentalnie.

Cytowania

8

CrossRef
0

Web of Science
9

Scopus

Autorzy (5)

Wojciech Śleszyński dr inż.
- Wydział Elektrotechniki i Automatyki
- Politechnika Gdańska
Janusz Nieznański prof. dr hab. inż.
- Wydział Elektrotechniki i Automatyki
- Politechnika Gdańska
Artur Cichowski dr inż.
- Wydział Elektrotechniki i Automatyki
- Politechnika Gdańska
Jarosław Łuszcz dr hab. inż.
- Wydział Elektrotechniki i Automatyki
- Politechnika Gdańska
Andrzej Wojewódka mgr inż.
- Wydział Elektrotechniki i Automatyki
- Politechnika Gdańska

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

pełna treść artykułu zobacz w serwisie zewnętrznym otwiera się w nowej karcie

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:: Aktywność konferencyjna
Typ:: materiały konferencyjne indeksowane w Web of Science
Tytuł wydania:: IEEE International Symposium on Industrial Electronics : (ISIE 2010), Bari, Italy, 4-7 July 2010,[dokument elektroniczny, dane tekstowe] strony 821 - 825
Język:: angielski
Rok wydania:: 2010
Opis bibliograficzny:: Śleszyński W., Nieznański J., Cichowski A., Łuszcz J., Wojewódka A..: Evaluation of selected diagnostic variables for the purpose of assessing the ageing effects in high-power IGBTs, W: IEEE International Symposium on Industrial Electronics : (ISIE 2010), Bari, Italy, 4-7 July 2010,[dokument elektroniczny, dane tekstowe], 2010, ,.
DOI:: Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1109/isie.2010.5637327
Weryfikacja:: Politechnika Gdańska