Implementation and Validation of Multisinusoidal, Fast Impedance Measurements in Atomic Force Microscope Contact Mode - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Implementation and Validation of Multisinusoidal, Fast Impedance Measurements in Atomic Force Microscope Contact Mode

Abstrakt

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 5

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Autorzy

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Opublikowano w:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS nr 20, wydanie 03, strony 974 - 981,
ISSN: 1431-9276
ISSN:
1431-9276
Rok wydania:
2014
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1017/s1431927614000531
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 11 razy

Meta Tagi