Wyszukiwarka
Implementation and Validation of Multisinusoidal, Fast Impedance Measurements in Atomic Force Microscope Contact Mode
Abstrakt
Cytowania
-
6
CrossRef
-
0
Web of Science
-
7
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- Publikacja w czasopiśmie
- Opublikowano w:
-
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
nr 20,
wydanie 03,
strony 974 - 981,
ISSN: 1431-9276 - ISSN:
- 1431-9276
- Rok wydania:
- 2014
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1017/s1431927614000531
- Weryfikacja:
- Brak weryfikacji
wyświetlono 135 razy