Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono skomputeryzowaną analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych przy użyciu specjalnego oprogramowania MultiScan v.6.08 oraz zautomatyzowane pomiary z wykorzystaniem analizatora laserowego Analysette 22 Micro Tec mikroziaren czarnego węglika krzemu o numerze F32/29. Dokonano przeglądu konstrukcji najnowszych analizatorów czołowych producentów światowych.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja monograficzna
- Typ:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Tytuł wydania:
- Informatyka w technice. Tom 2 strony 103 - 114
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Barylski A.: Komputerowa analiza wielkości mikroziaren ściernych// Informatyka w technice. Tom 2/ ed. pod red. K. Lenika, G. Borowskiego Lublin: Lubelskie Towarzystwo Naukowe, 2008, s.103-114
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 79 razy