Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality

Abstrakt

Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości odpowiednio dobranych dwóch prób tendencyjnych składających się z badanych przyrządów. Przytoczono propozycję oszacowania K progów parametru Xthi i = 1,2,...,K w celu podziału danego typu przyrządów półprzewodnikowych na grupy o zróżnicowanej jakości, np. na przyrządy o bardzo dobrej jakości, przyrządy o dobrej jakości, przyrządy o średniej jakości, przyrządy o miernej jakości.Zaproponowana metodyka i procedury badań należy zaliczyć do niedestrukcyjnych.

Cytowania

  • 1

    CrossRef

  • 1

    Web of Science

  • 5

    Scopus

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Opublikowano w:
MICROELECTRONICS RELIABILITY nr 48, strony 37 - 44,
ISSN: 0026-2714
Język:
angielski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Konczakowska A.: Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality // MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 48., nr. nr 1 (2008), s.37-44
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2006.12.002
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 25 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi