Wyszukiwarka
Abstrakt
Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości odpowiednio dobranych dwóch prób tendencyjnych składających się z badanych przyrządów. Przytoczono propozycję oszacowania K progów parametru Xthi i = 1,2,...,K w celu podziału danego typu przyrządów półprzewodnikowych na grupy o zróżnicowanej jakości, np. na przyrządy o bardzo dobrej jakości, przyrządy o dobrej jakości, przyrządy o średniej jakości, przyrządy o miernej jakości.Zaproponowana metodyka i procedury badań należy zaliczyć do niedestrukcyjnych.
Cytowania
-
1
CrossRef
-
0
Web of Science
-
5
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
nr 48,
strony 37 - 44,
ISSN: 0026-2714 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Konczakowska A.: Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality // MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 48., nr. nr 1 (2008), s.37-44
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2006.12.002
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 113 razy