Wyszukiwarka
Abstrakt
Zaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą (BIST). Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego obwodu analogowego, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych. W pracy opisano przykładową aplikację układu BIST dla mikrosystemu opartego na mikrokontrolerze Atmega16, sposób tworzenia słownika uszkodzeń i procedury samo-testujące.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2004
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.// / : , 2004,
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 124 razy