Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych

Abstrakt

Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test), ścieżkę sterująco-obserwacyjną oraz magistralę ułatwionego testowania IEEE 1149.1. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych metod oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Język:
polski
Rok wydania:
2005
Opis bibliograficzny:
Bartosiński B.: Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych// . -., (2005),
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 14 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi