Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test), ścieżkę sterująco-obserwacyjną oraz magistralę ułatwionego testowania IEEE 1149.1. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych metod oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2005
- Opis bibliograficzny:
- Bartosiński B.: Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych// . -., (2005),
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 97 razy