Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re i Im mierzonej impedancji, a następnie wartości elementów RLC przy założonym modelu impedancji.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 151 - 154,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Lentka G., Michalkiewicz M.: Miernik elementów RLC na bazie układu ''programmable system On a Chip''// Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 9a (2011), s.151-154
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 123 razy