Wyszukiwarka
Abstrakt
The paper presents detailed model of noise sources in supercapacitors. Noise phenomena observed in supercapacitors may be used as a diagnostic tool for assessment of supercapacitor quality or degradation mechanisms (e.g. corrosion of the electrodes or cloggin g up the pores) during ageing. Therefore, it is important to consider where noise is generated. The equivalent circuit of noise sources existing in supercapacitor is proposed. Methods of noise sources identification are also considered . Limitations of the proposed model are underlined . Final conclusions show a path of further investigations of random phenomena in supercapacitors.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1088/1742-6596/1065/10/102004
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- publikacja w in. zagranicznym czasopiśmie naukowym (tylko język obcy)
- Opublikowano w:
-
Journal of Physics : Conference Series
nr 1065,
strony 1 - 5,
ISSN: 1742-6588 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2018
- Opis bibliograficzny:
- Lentka Ł.. Model of noise sources in supercapacitors. Journal of Physics : Conference Series, 2018, Vol. 1065, , s.1-5
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1088/1742-6596/1065/10/102004
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 118 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Measurements of flicker noise in supercapacitor cells
- A. Szewczyk,
- Ł. Lentka,
- J. Smulko
- + 2 autorów