New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification

Abstrakt

W pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz długości nacięcia laserowego. Porównano stabilność długoterminową, długości pobudzenia impulsowego i szumy niskoczęstotliwościowe dla rezystorów 2- i 3-kontaktowych.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Opublikowano w:
MICROELECTRONICS RELIABILITY nr 45, strony 1941 - 1948,
ISSN: 0026-2714
Język:
angielski
Rok wydania:
2005
Opis bibliograficzny:
Wroński M., Kamiński S., Miś E., Dziedzic A.: New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 45., (2005), s.1941-1948
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 9 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi