Noise in semiconductor devices - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Noise in semiconductor devices

Abstrakt

Omówiono typowe źródła szumów występujące w przyrządach pólprzewodnikowych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS), lawinowe. Przedstawiono szumowe schematy zastępcze tranzystora bipolarnego, JFET i MOSFET oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Zasugerowano jak dobierać przyrządy półprzewodnikowe do małoszumowych układów w zakresie małych częstotliwości.

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja monograficzna
Typ:
rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku w języku o zasięgu międzynarodowym
Tytuł wydania:
The Industrial Electronics Handbook: Fundamentals of Industrial Electroncs strony 0 - 12
Język:
angielski
Rok wydania:
2010
Opis bibliograficzny:
Konczakowska A., Wilamowski B.: Noise in semiconductor devices// The Industrial Electronics Handbook: Fundamentals of Industrial Electroncs/ ed. eds. Bogdan M. Wilamowski, J. David Irwin. Chicago, USA: CRC Press, 2010, s.0-12
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 68 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi